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申请/专利权人：中国核动力研究设计院
申请日：2024-03-21
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118248357A
主分类号：G21C17/00
分类号：G21C17/00;G21G1/02
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明公开了一种用于单晶硅辐照孔道中子注量率分布测量试验装置，包括固定组件、支撑组件，还包括周向探测器安装件、轴向探测器安装件、径向探测器安装件，分别用于安装探测器；固定组件由两个固定座组成，支撑组件由多个沿两个固定座中心连线的轴向方向布置的支撑条组成，各支撑条的两端固定连接在固定座上；周向探测器安装件为由多个安装条相接形成的环形结构，周向探测器安装件与贯穿环形结构周面的支撑条固定连接；轴向探测器安装件与沿轴向的支撑条固定连接；径向探测器安装件与多个沿径向排列的支撑条相连接。本发明可一次同时测量单晶硅辐照孔道中子注量率的周向、轴向和径向分布，提高效率，降低成本。
主权项：1.一种用于单晶硅辐照孔道中子注量率分布测量试验装置，其特征在于，包括固定组件、支撑组件，还包括周向探测器安装件3、轴向探测器安装件4、径向探测器安装件5，分别用于安装探测器；所述固定组件由两个固定座1组成，所述固定座1中部开设有透水孔19，所述支撑组件由多个沿两个固定座1中心连线的轴向方向布置的支撑条2组成，各所述支撑条2的两端固定连接在所述固定座1上；所述周向探测器安装件3为由多个安装条13相接形成的环形结构，所述周向探测器安装件3与贯穿环形结构周面的支撑条2固定连接；所述轴向探测器安装件4与沿轴向的支撑条2固定连接；所述径向探测器安装件5与多个沿径向排列的支撑条2相连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国核动力研究设计院 一种用于单晶硅辐照孔道中子注量率分布测量试验装置
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