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申请/专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请日：2024-04-11
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118260954A
主分类号：G06F30/20
分类号：G06F30/20;G06F119/02;G06F113/14
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本申请涉及一种基于数字孪生的中子管寿命预测方法、装置、计算机设备、可读存储介质和产品，涉及器件寿命预测领域。方法包括：响应于针对待预测中子管的寿命预测指令，获取待预测中子管运行第一目标时间之后的第一目标真空度、第一工作参数和实际中子产额；基于待预测中子管的初始真空度和第一目标真空度，确定待预测中子管的耐压损失参数；根据第一工作参数和第一目标真空度，在目标数字孪生模型中对待预测中子管进行仿真运行，得到待预测中子管的理论中子产额；依据实际中子产额和理论中子产额，确定待预测中子管的产额损失参数；基于耐压损失参数和产额损失参数，预测得到待预测中子管的剩余寿命。采用本方法能够提高中子管寿命预测的准确性。
主权项：1.一种基于数字孪生的中子管寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：响应于针对待预测中子管的寿命预测指令，获取所述待预测中子管运行第一目标时间之后的第一目标真空度、第一工作参数和实际中子产额；基于所述待预测中子管的初始真空度和所述第一目标真空度，确定所述待预测中子管的耐压损失参数；根据所述第一工作参数和所述第一目标真空度，在目标数字孪生模型中对所述待预测中子管进行仿真运行，得到所述待预测中子管的理论中子产额；依据所述实际中子产额和所述理论中子产额，确定所述待预测中子管的产额损失参数；基于所述耐压损失参数和所述产额损失参数，预测得到所述待预测中子管的剩余寿命。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 基于数字孪生的中子管寿命预测方法、装置、设备和介质
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