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PSRAM控制器及其硬件采样训练方法、设备、介质 

申请/专利权人:广东匠芯创科技有限公司

申请日:2024-05-28

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118245407A

主分类号:G06F13/16

分类号:G06F13/16;G06F3/06;G11C11/419;G06N20/00;G06F11/22

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本发明公开了一种PSRAM控制器及其硬件采样训练方法、设备、介质,涉及存储器技术领域。方法包括:根据配置的测试时长参数确定CS片选信号;向PSRAM存储器发送CS片选信号,以使PSRAM存储器响应于CS片选信号的低电平信号进入激活状态;对于每个DQ数据接口独立对应地采样多个候选DQS可调相位;当PSRAM存储器处于激活状态,对于每个DQ数据接口根据候选DQS可调相位和测试数据进行采样相位训练处理,从多个候选DQS可调相位中确定采样可用窗口;将采样可用窗口的中间值确定为DQ数据接口的目标采样相位;将得到的各个DQ数据接口的目标采样相位保存至寄存器。能降低采样训练成本,提高采样训练效率。

主权项:1.一种PSRAM控制器的硬件采样训练方法,其特征在于,应用于PSRAM控制器,所述PSRAM控制器与PSRAM存储器电连接;所述PSRAM控制器包括:寄存器和第一接口单元,所述第一接口单元包括多个DQ数据接口;所述硬件采样训练方法包括:获取配置的测试数据和测试时长参数,根据所述测试时长参数确定CS片选信号;所述CS片选信号的一个信号周期内低电平信号的持续时间由所述测试时长参数确定;向所述PSRAM存储器发送所述CS片选信号,以使所述PSRAM存储器响应于所述CS片选信号的低电平信号进入激活状态,参与数据收发;对于每个所述DQ数据接口独立对应地采样多个候选DQS可调相位;当所述PSRAM存储器处于激活状态,对于每个所述DQ数据接口,根据所述候选DQS可调相位和所述测试数据进行采样相位训练处理,从所述多个候选DQS可调相位中确定采样可用窗口;将所述采样可用窗口的中间值确定为所述DQ数据接口的目标采样相位;将得到的各个所述DQ数据接口的所述目标采样相位保存至所述寄存器。

全文数据:

权利要求:

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