申请/专利权人：大连理工大学

申请日：2022-09-16

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN115629058B

主分类号：G01N21/76

分类号：G01N21/76;G01N21/01;G01J1/44;G01N21/33;G01N30/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.25#授权;2023.02.14#实质审查的生效;2023.01.20#公开

摘要：本发明属于光化学反应装置技术领域，提出了一种用于光反应量子产率测定的标准反应装置及其测定方法。该标准反应装置包括光源及其固定装置、光源冷却装置、透镜及其固定装置、反应器及其固定装置、光信号检测装置、反馈调节装置和暗箱；暗箱内依次安装光源及其固定装置、光源冷却装置、透镜及其固定装置、反应器及其固定装置和光信号检测装置；光源及其固定装置、透镜及其固定装置、反应器及其固定装置和光信号检测装置的工作面位于同一直线上；光源位置固定，透镜位置可变，匹配不同焦距的透镜，反应器支架位置可调。本发明改变了光辐照方式，辐照面受到的均匀光照可以直接通过仪器测得，能够快速测得光化学反应量子产率和反应准确的光物理参数。

主权项：1.一种用于光反应量子产率测定的标准反应装置，其特征在于，该用于光反应量子产率测定的标准反应装置包括光源及其固定装置、光源冷却装置、透镜及其固定装置、反应器及其固定装置、光信号检测装置、反馈调节装置20和暗箱；暗箱内依次安装光源及其固定装置、光源冷却装置、透镜及其固定装置、反应器及其固定装置和光信号检测装置，上述构件底部均固定于轨道16上进行移动；光源及其固定装置、透镜及其固定装置、反应器及其固定装置和光信号检测装置的工作面位于同一直线上；暗箱外设置有光源控制器1用于控制光源；暗箱一侧设有风冷系统4，另一侧对应侧壁上设置有通风孔，光源冷却装置位于风冷系统4与通风孔间；暗箱开有缝隙，用于插入挡光板2，挡光板2位于透镜及其固定装置与反应器及其固定装置间；暗箱于反应器及其固定装置对应顶部开有推拉取样窗3；光信号检测装置一端固定于反应池支架19上，另一端连接于暗箱外的光功率密度监测显示器5，实时显示光信号；反馈调节装置20两端分别连接光信号检测装置和光源控制器1，根据光信号检测装置所检测的光信号反馈调节光源控制器1，以保证标准反应装置体系光功率密度的稳定；所述光源及其固定装置包括光源支架8和LED灯珠10；光源冷却装置为散热板9；散热板9固定于光源支架8上，LED灯珠10固定于散热板9上；透镜及其固定装置包括透镜固定件11、光学透镜12和透镜支架13，光学透镜12通过透镜固定件11固定于透镜支架13上；反应器及其固定装置包括反应池固定槽14和反应池支架19，反应池固定槽14固定于反应池支架19上，反应池固定槽14内安装反应器；光信号检测装置为改装光功率密度计15，一端固定于反应池支架19上，另一端连接于暗箱外的光功率密度监测显示器5；光源支架8底部、透镜支架底座17和反应池支架19底部于轨道16上滑动，且通过固定卡扣18固定于轨道16上；改装光功率密度计15包括依次连接的玻璃防护罩21、光信号检测芯片22、内部光电转换主体单元23和检测探头接线端口24；光信号检测芯片22的光接收面与反应器的光辐照面平齐；内部光电转换主体单元23将光信号检测芯片22输出的光信号转化为电信号后，输出至检测探头接线端口24；检测探头接线端口24外接光功率密度监测显示器5。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 大连理工大学 一种用于光反应量子产率测定的标准反应装置及其测定方法

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