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申请/专利权人：株式会社理学
申请日：2019-11-21
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN113302484B
主分类号：G01N23/20025
分类号：G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28
优先权：["20181122 JP 2018-219782"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.25#授权;2021.11.16#实质审查的生效;2021.08.24#公开
摘要：提供即使没有专业知识也能够迅速、可靠且容易地进行包括吸藏在晶体海绵的试样的搭载作业在内的基于晶体海绵的构造解析的单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元。试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线构造解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部、保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体；以及试样导入构造，形成于基台部、导入用于吸藏于细孔性络合物晶体的试样，涂敷器具备：收纳空间以及开口部302，收纳试样保持架；以及防脱部，选择性地阻止以及解除收纳于收纳空间的试样保持架从开口部302脱出，防脱部具有在向测角仪安装了收纳于涂敷器的试样保持架的状态下解除防脱的操作部。
主权项：1.一种试样保持架单元，包括在单晶X射线构造解析装置中使用的试样保持架和收纳所述试样保持架的涂敷器，其特征在于，所述试样保持架具备：基台部，安装于所述单晶X射线构造解析装置的测角仪；保持部，形成于所述基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体；以及试样导入构造，形成于所述基台部，导入用于吸藏于所述细孔性络合物晶体的所述试样，所述涂敷器具备：收纳空间以及开口部，收纳所述试样保持架；以及防脱部，阻止收纳于所述收纳空间的所述试样保持架从所述开口部脱出，或者解除对所述试样保持架从所述开口部脱出的阻止，所述防脱部具有在向所述测角仪安装了收纳于所述涂敷器的所述试样保持架的状态下解除防脱的操作部。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社理学 单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元
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