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在主体钨浆料中提高阻挡膜移除速率的方法 

申请/专利权人:CMC材料有限责任公司

申请日:2020-07-01

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN114127211B

主分类号:C11D1/38

分类号:C11D1/38;C09G1/02

优先权:["20190716 US 16/513,404"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2023.12.12#著录事项变更;2022.03.18#实质审查的生效;2022.03.01#公开

摘要:本发明涉及化学机械抛光组合物,其包含:a第一研磨剂,其包含阳离子改性的胶体二氧化硅颗粒,b第二研磨剂,其具有约5.5或更高的莫氏硬度,c阳离子聚合物,d含铁活化剂,e氧化剂,及f水。本发明还涉及使用该抛光组合物化学机械抛光基板、尤其是包含钨层及阻挡层例如,氮化物的基板的方法。

主权项:1.化学机械抛光组合物,其包含:a混合颗粒研磨剂,其由以下组成:包含阳离子改性的胶体二氧化硅颗粒的第一研磨剂及具有5.5或更高的莫氏硬度的第二研磨剂,其中所述第二研磨剂选自α-氧化铝颗粒、氧化锆颗粒、金刚石颗粒及其组合,b阳离子聚合物,c含铁活化剂,d氧化剂,及e水。

全文数据:

权利要求:

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