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晶片承载装置、等离子体处理装置及其温度控制方法 

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申请/专利权人:中微半导体设备(上海)股份有限公司

摘要:本发明提供一种晶片承载装置、等离子体处理装置及其温度控制方法;其中,晶片承载装置的基座包括主承载区域和外围区域,主承载区域上设置有用于支撑晶片的静电卡盘,外围区域用于支撑围绕着静电卡盘及晶片的聚焦环,主承载区域和外围区域内分别设有可供控温介质流动的通道;主承载区域的通道和外围区域的通道之间设有第一隔热部;主承载区域的通道内的控温介质,用于调整主承载区域的基座温度,进而调整晶片的温度;外围区域的通道内的控温介质,用于调整外围区域的基座温度,进而调整聚焦环的温度。本发明在聚焦环下方的基座内单独设置一路供控温介质流动的通道,可以更有效地调节晶片边缘的温度,并可以改善聚焦环的温度。

主权项:1.一种晶片承载装置,其特征在于,包括:基座,其包括主承载区域和外围区域,所述外围区域围绕着主承载区域,所述主承载区域上设置有用于支撑晶片的静电卡盘,所述外围区域用于支撑围绕着静电卡盘及晶片的聚焦环,所述主承载区域和外围区域内分别设有可供控温介质流动的通道;第一隔热部,设于所述主承载区域的通道和外围区域的通道之间;所述主承载区域的通道内的控温介质,用于调整主承载区域的基座温度,进而调整晶片的温度;所述外围区域的通道内的控温介质,用于调整外围区域的基座温度,进而调整聚焦环的温度。

全文数据:

权利要求:

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