龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
申请/专利权人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请日：2024-04-08
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118259204A
主分类号：G01R33/022
分类号：G01R33/022
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明提供一种全张量磁梯度探头及磁场检测系统，包括：安装支架，由上端面、下端面及六个安装平面构成；六个安装平面设置于上端面与下端面之间，且围绕探头中心轴线依次排布；第一、第三、第五安装平面构成一组，第二、第四、第六安装平面构成一组，两组安装平面依次交替分布；其中，第一、第三、第五安装平面与下端面的夹角为锐角，第二、第四、第六安装平面与下端面的夹角为钝角；六个平面梯度计分别安装在六个安装平面上。本发明采用反对称六棱锥构型，探头尺寸小，检测精度高；同时调整平面梯度计的中心高度和中心距离，以降低各平面度计之间的串扰，优化探头尺寸；还将反馈线圈设置于远离探头中心轴线的位置，进一步减小串扰。
主权项：1.一种全张量磁梯度探头，其特征在于，所述全张量磁梯度探头至少包括：安装支架及六个平面梯度计；所述安装支架包括上端面、下端面及六个安装平面；六个安装平面设置于所述上端面与所述下端面之间，且围绕垂直于所述上端面与所述下端面的探头中心轴线依次排布；第一、第三、第五安装平面构成一组，第二、第四、第六安装平面构成一组，两组安装平面依次交替分布；其中，第一、第三、第五安装平面与所述下端面的夹角为锐角，第二、第四、第六安装平面与所述下端面的夹角为钝角；六个平面梯度计分别安装在六个安装平面上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 全张量磁梯度探头及磁场检测系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号