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申请/专利权人：苏州弘辐智能设备有限公司
申请日：2024-04-22
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118264927A
主分类号：H04N25/69
分类号：H04N25/69;H04N25/683
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明公开了一种辐射环境下照相机图像传感器图像数据缺陷点补正方法，具体涉及图像数据缺陷点补正技术领域，包括缺陷点动态补正方法和缺陷点静态补正方法；其中，缺陷点动态补正方法步骤如下：S1、环境准备与数据采集；S2、数据处理；S3、连续帧的处理；S4、窗口像素值排序；S5、限幅处理；其中，缺陷点静态补正方法步骤如下：S100、环境准备与数据采集；S200、缺陷点检测；S300、缺陷点补正。本发明能够在特定辐射环境下对均匀的灰度图像进行有效的缺陷点检测和补正，从而显著提升图像的均匀性和整体质量，并能够在照相机工作过程中实时处理图像数据，及时修正因辐射干扰而产生的缺陷点，保持图像的清晰度和细节。
主权项：1.一种辐射环境下照相机图像传感器图像数据缺陷点补正方法，其特征在于：包括缺陷点动态补正方法和缺陷点静态补正方法；其中，缺陷点动态补正方法步骤如下：S1、环境准备与数据采集，将照相机放置在特定的辐射环境下，在照相机工作时，实时采集图像传感器的数据；S2、数据处理，对每个像素点应用动态补正算法；S3、连续帧的处理；S4、窗口像素值排序，以当前处理点为中心将处理窗中数据进行排序；S5、限幅处理，根据当前窗口的排序结果进行限幅处理；其中，缺陷点静态补正方法步骤如下：S100、环境准备与数据采集，将照相机放置在特定的辐射环境下，采集图像数据；S200、缺陷点检测，对采集到的图像数据进行处理，使用5x5的滑动窗口遍历整个图像，在每个窗口内，根据预设的算法来检测潜在的缺陷点；S300、缺陷点补正，对检测到的缺陷点，使用窗口内正常像素的平均值来替换缺陷点的像素值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州弘辐智能设备有限公司 辐射环境下照相机图像传感器图像数据缺陷点补正方法
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