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申请/专利权人：芯测通(深圳)半导体有限公司
申请日：2024-03-20
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118260137A
主分类号：G06F11/22
分类号：G06F11/22
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明提出一种FPGA平台、ATE测试设备和主控器切换控制方法，主控器切换控制方法包括以下步骤：接收中央处理器的第一工作指令，并确定主控器参数；根据主控器参数与记忆体地址之间的映射关系确定记忆体地址；根据记忆体地址确定对应的主控器类型，并根据选择的主控器类型对芯片测试控制模块进行编程，以使芯片测试控制模块的主控器与待测物兼容。本发明根据中央处理器的工作指令，切换选择与待测物类型对应的主控器类型，根据主控器类型对芯片测试控制模块进行编程，以使芯片测试控制模块的主控器与待测物兼容，使得ATE测试设备的测试功能更加多元化以及弹性化，以为闪存NANDFLASH、eMMC、SPImemory等其他芯片提供测试服务。
主权项：1.一种主控器切换控制方法，其特征在于，包括以下步骤：接收中央处理器的第一工作指令，并确定主控器参数；根据主控器参数与记忆体地址之间的映射关系确定记忆体地址；根据记忆体地址确定对应的主控器类型，并根据选择的主控器类型对芯片测试控制模块进行编程，以使芯片测试控制模块的主控器与待测物兼容。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 芯测通(深圳)半导体有限公司 FPGA平台、ATE测试设备和主控器切换控制方法
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