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申请/专利权人：南通南平电子科技有限公司
申请日：2024-05-29
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118258816A
主分类号：G01N21/88
分类号：G01N21/88;G06V10/25;G06V10/20;G06V10/766;G01B11/16;G01R27/26
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明涉及导针测量技术领域，具体为圆角品车载电容导针质检方法及系统，包括以下步骤：初始化激光干涉仪，对导针圆角区域进行光波反射率连续扫描，采集反射波形并记录干涉模式的变化，检测微小几何形变，根据数据调整电容探测器的频率设置，执行重复区域扫描，获取反射光波干涉模式数据和多频电容测量数据。本发明中，实现导针圆角区域的光波反射率连续扫描和多频电容测量数据的收集，提升对微小几何形变的识别能力，调整电容探测器的频率并执行重复区域扫描，提高检测的准确性和可靠性，运用多元回归分析，方便电容测量数据与圆角几何特性之间的统计关联，同时深入分析电容值与圆角几何缺陷的关联性，增强产品的一致性和可靠性。
主权项：1.圆角品车载电容导针质检方法，其特征在于，包括以下步骤：初始化激光干涉仪，对导针圆角区域进行光波反射率连续扫描，采集反射波形并记录干涉模式的变化，检测微小几何形变，根据数据调整电容探测器的频率设置，执行重复区域扫描，获取反射光波干涉模式数据和多频电容测量数据；根据所述反射光波干涉模式数据和多频电容测量数据，进行数据合并，并将两组数据进行时间序列对齐，去除环境噪声和非相关频率干扰，通过模式数据和测量数据无偏差整合，生成校准对齐数据集；基于所述校准对齐数据集，运用多元回归分析方法，将电容测量数据与圆角几何特性建立统计关联，通过方差分析确定差异批次导针的圆角质量差异，得到回归分析结果；根据所述回归分析结果，对电容值与圆角几何缺陷之间的相关性进行深度分析，识别导针圆角的微小变形或不规则性，进行导针圆角缺陷的实时检测和标识，得到导针质检记录。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南通南平电子科技有限公司 圆角品车载电容导针质检方法及系统
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