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作为反射元件用于吸收光谱气体测量的测量装置中的尖晶石、多晶氧化铝或氧氮化铝以及吸收光谱方法 

申请/专利权人:德国M&C技术集团有限公司

申请日:2022-12-20

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118265901A

主分类号:G01N21/03

分类号:G01N21/03;G01N21/39;G01N21/85;G01N21/3504;G01N21/15

优先权:["20211220 EP 21216057.6"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:公开了用于吸收光谱气体测量的测量装置1,其包括由尖晶石、多晶氧化铝或氧氮化铝制成的反射元件3,其被布置成将入射激光束朝着检测元件4的方向偏转,以及使用该测量装置1的吸收光谱气体测量方法。此外,公开了尖晶石、多晶氧化铝或氧氮化铝作为反射元件3的用途,通过该反射元件可在用于吸收光谱气体测量的测量装置1中反射激光束。

主权项:1.用于吸收光谱气体测量的测量装置1,其包括:1.1辐射单元2,通过该辐射单元可产生激光束;1.2反射元件3,通过该反射元件可反射激光束;1.3至少一个检测元件4,通过该检测元件可检测激光束;1.4第一光轴5,辐射单元2产生的激光束可沿该第一光轴引导至反射元件3;和1.5第二光轴6,反射元件3反射的激光束可沿该第二光轴引导至检测元件4;其中1.6反射元件3选自:尖晶石、多晶氧化铝、氧氮化铝。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 德国M&C技术集团有限公司 作为反射元件用于吸收光谱气体测量的测量装置中的尖晶石、多晶氧化铝或氧氮化铝以及吸收光谱方法

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