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一种化石样品内部结构跨尺度综合分析方法 

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申请/专利权人:中国科学院南京地质古生物研究所

摘要:本发明公开了一种化石样品内部结构跨尺度综合分析方法,包括:使用3D‑XRM在高分辨率扫描模式下对化石样品进行扫描,得到高分辨率3D‑XRM数据,确定化石样品内部感兴趣区域ROI;制作表面带刻度标记的包埋块;使用3D‑XRM在低分辨率模式下对包埋块进行扫描,得到低分辨率3D‑XRM数据;并将低分辨率数据与高分辨率3D‑XRM数据进行对齐,确定化石样品内部感兴趣区域与包埋块表面刻度的相对位置;在包埋块的表面进行划线定位,对包埋块进行定向切割,利用FIB‑SEM对暴露ROI的薄片进行测试,并进行三维重建;将高分辨率3D‑XRM数据导入VGstudioMax软件中,从而得到联合使用两种技术对同一化石跨尺度‑多模态的分析结果。本发明实现了快速、经济、有效定位至化石样品内部的感兴趣区域位置。

主权项:1.一种化石样品内部结构跨尺度综合分析方法,其特征在于,包括:步骤B:使用3D-XRM在高分辨率扫描模式下对化石样品进行扫描,得到高分辨率3D-XRM数据;并基于3D-XRM数据进行三维重建,得到化石样品内部结构图像,确定所述化石样品内部感兴趣区域ROI;步骤C:将所述化石样品制作为表面带刻度标记的包埋块;步骤D:使用3D-XRM在低分辨率模式下对所述包埋块进行快速扫描,得到低分辨率3D-XRM数据;并在三维图像处理软件中将该步骤得到的低分辨率数据与步骤B得到的高分辨率3D-XRM数据进行对齐,确定化石样品内部感兴趣区域与包埋块表面刻度的相对位置;步骤E:基于确定的化石样品内部感兴趣区域与包埋块表面刻度的相对位置,在包埋块的表面进行划线定位,以确定待切割面;使用切割机沿着待切割面对包埋块进行定向切割,得到含ROI的薄片,并对其中一个切割面进行研磨,得到暴露ROI的薄片;步骤G:利用FIB-SEM对暴露ROI的薄片进行测试分析,并将得到的FIB-SEM三维数据导入VGstudioMax软件进行三维重建;步骤H:将高分辨率3D-XRM数据导入上述包含FIB-SEM三维数据的VGstudioMax软件中,进行数据处理和精细对准,从而得到联合使用两种技术对同一化石跨尺度-多模态的分析结果;步骤C包括如下步骤:步骤C1:将化石样品放入包埋模具中,调整样品至预定方向,倒入包埋剂,使化石样品被包埋剂包裹并去除气泡;步骤C2:先使用黄光照射2~4小时,再使用紫光照射4~6小时,待包埋剂固化后,取出表面带刻度的包埋块,实现化石样品的定向包埋;步骤C1中使用的包埋模具包括模具槽,模具槽是由模具板向下凹陷形成,模具槽整体呈细长条状;模具槽具有一个槽底面和四个槽侧面,模具槽的槽底面及其中的两个相对布置的槽侧面上均设有刻度凸起,使得包埋剂固化后形成的包埋块表面带有凹陷的刻度;槽底面靠近直角的位置具有短刻度凸起,槽底面的两侧的短刻度凸起不连贯;槽侧面的刻度凸起是竖向通长设置的长刻度凸起;短刻度凸起与长刻度凸起的数量相同,短刻度凸起与长刻度凸起一一对应,且二者在直角处垂直交汇;或者,短刻度凸起的数量多于长刻度凸起的数量,每个长刻度凸起与一个对应的短刻度凸起在直角处垂直交汇;步骤D包括如下步骤:步骤D1:再次使用3D-XRM在大于10μm的分辨率下对包埋块进行扫描,扫描时间为25±5分钟,得到低分辨率3D-XRM数据;步骤D2:将所述低分辨率3D-XRM数据以及步骤B中得到的高分辨3D-XRM数据依次导入三维图像处理软件中,使得两组数据对齐,并获取包埋块的目标待切割面与样品表面的交汇线,从而确定出化石样品内部感兴趣区域与包埋块表面刻度的相对位置。

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