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申请/专利权人：华南师范大学
摘要：本发明公开了一种用于测量纳米颗粒Zeta电位的显微图像处理方法。所述方法基于纳米颗粒电泳运动显微图像，可以测量单电位分布以及双电位分布样品的纳米颗粒Zeta电位。本发明通过形态学分析的方案实现双电位分布样品的测量，使得对于纳米颗粒Zeta电位的测量不再局限于单一电位分布的样品。
主权项：1.一种用于测量纳米颗粒Zeta电位的显微图像处理方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、输入纳米颗粒定向电泳运动的显微图像；S2、判断待测样品为单电位分布还是双电位分布，若待测样品为单电位分布，将图像进行去除背景、傅里叶变换、加汉宁窗、奇异值分解的预处理操作；若待测样品为双电位分布，则需要先将图像进行形态学分析与中值滤波操作，再进行去除背景、傅里叶变换、加汉宁窗、奇异值分解的预处理操作；S3、通过互相关以及求解逆傅里叶变换操作得到待测样品纳米颗粒定向电泳运动的速度；S4、将待测样品与标准样品定向电泳运动速度比对得到待测样品纳米颗粒Zeta电位。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南师范大学 一种用于测量纳米颗粒Zeta电位的显微图像处理方法
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