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用于测试样品的球凹痕性能的技术 

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申请/专利权人:提克纳有限责任公司

摘要:提供了用于测试样品的球凹痕性能的方法。该方法包括:将样品设置在测试设备的台上,以及使包括具有圆角末端的尖端的触发器组件朝向样品移动,使得末端冲击样品一次或多次。致动器被配置成将触发器组件释放至预定位置。在移动之后,致动器被配置成释放触发器组件,使得触发器组件仅在重力的作用下朝向台自由下落。待测试的样品是聚合物组合物,聚合物组合物包含聚合物基质,聚合物基质包括热致性液晶聚合物。

主权项:1.一种球凹痕测试设备,包括与触发器组件联接的致动器,其中所述触发器组件包括尖端,所述尖端包括限定圆角末端的第一端和相对的第二端,并且其中所述尖端还包括触发杆,所述触发杆从所述尖端的所述第二端延伸至触发杆端部。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 提克纳有限责任公司 用于测试样品的球凹痕性能的技术

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