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申请/专利权人：北京工业大学
摘要：本发明公开了一种基于漏磁与磁扰动检测原理的缺陷复合成像方法，属于无损检测技术领域；包括：利用漏磁与磁扰动阵列传感器扫查铁磁构件获取缺陷信号；对获取的原始漏磁与磁扰动扫查结果进行数字带通滤波与一阶求导处理，获得阵列漏磁信号与磁扰动信号的二维矩阵；提取漏磁和磁扰动阵列信号的缺陷最大峰峰值及各参数缺陷峰峰值，将漏磁和磁扰动信号根据各自最大缺陷峰峰值进行归一化处理；计算每个缺陷漏磁与磁扰动总和信号的漏磁权重比与磁扰动权重比；构建复合成像的特征矩阵；将特征矩阵进行三次样条插值成像。该方法利用权重特征值与归一化处理，可实现焊缝缺陷的漏磁与磁扰动复合成像，融合两种检测原理的缺陷检测优势。
主权项：1.一种基于漏磁与磁扰动检测原理的缺陷复合成像方法，其特征在于，融合漏磁与磁扰动两种检测方法的成像信息，所述方法的实施步骤包括：步骤一：利用漏磁与磁扰动阵列传感器扫查铁磁构件获取原始漏磁与磁扰动缺陷信号；步骤二：对获取的原始漏磁与磁扰动扫查结果进行数字带通滤波与一阶求导处理，获得对应阵列漏磁信号的二维矩阵MMFL与磁扰动信号的二维矩阵MMFD；步骤三：获取步骤二中漏磁信号的二维矩阵MMFL中各缺陷峰峰值所构成的矩阵ΔPMFL，及ΔPMFL中的最大值PMFL，获取步骤二中磁扰动信号的二维矩阵MMFD中各缺陷峰峰值所构成的矩阵ΔPMFD，及ΔPMFD中的最大值PMFD，将MMFL按最大值PMFL进行归一化处理，得到漏磁归一化矩阵SMFL，MMFD按最大值PMFD进行归一化，得到磁扰动归一化矩阵SMFD；步骤四：计算求得每个缺陷对应的漏磁与磁扰动总和信号的漏磁权重比WMFL与磁扰动权重比WMFD；步骤五：利用漏磁权重比WMFL、磁扰动权重比WMFD，漏磁归一化矩阵SMFL、磁扰动归一化矩阵SMFD构建缺陷区域复合成像的特征矩阵记作CMFL+MFD，由公式1表示CMFL+MFD＝SMFLWMFL+SMFDWMFD1步骤六：将步骤五中特征矩阵CMFL+MFD进行三次样条插值成像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京工业大学 一种基于漏磁与磁扰动检测原理的缺陷复合成像方法
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