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申请/专利权人：东南大学
摘要：本发明公开了一种基于复信号测量的1bitRIS空口诊断方法，涉及空口测试技术领域，用于诊断无源1bitRIS中的故障移相器；对每个RIS单元进行相位反转操作，包括0°和180°两个相位状态；若RIS单元存在移相器故障，则该单元相位反转前后所测得的信号没有变化，信号差值为0；若RIS单元不存在移相器故障，则该单元相位反转前后所测得的信号反相，差值为相位反转前所测得信号的两倍；通过比较不同单元相位反转前后所测得的信号差值即可诊断出故障单元，本发明为RIS故障移相器诊断算法提供参考。
主权项：1.一种基于复信号测量的1bitRIS空口诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、将所有可重构智能表面RIS单元的相位设置为0°，测量接收天线所接收到的复信号，并记录该复信号的值为初始值；步骤2、令迭代次数n＝1；步骤3、将第n个RIS单元的相位设置为180°，其他RIS单元的相位设置为0°，测量接收天线所接收到的复信号，根据步骤1中所测得的初始值计算第n个RIS单元接收信号的变化值Δn；步骤4、n＝n+1，重复步骤3直到n＝N；其中，N为RIS单元的数量；步骤5、比较所有RIS单元的接收信号的变化值，从而诊断出故障RIS单元。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 东南大学 一种基于复信号测量的1bit RIS空口诊断方法
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