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申请/专利权人：苏州华兴源创科技股份有限公司
摘要：本公开涉及一种金手指缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质。所述方法包括：获取待检测图像，提取待检测图像中金手指区域的金手指灰度图像；根据基准图形区域、每个金手指的尺寸，确定每个金手指的第一边界端点和第二边界端点；在每个金手指的第一边界端点和第二边界端点之间划分预设数量的轮廓，基于预设数量的轮廓的灰度值，确定每个金手指的中位点，基于每个金手指的中位点，确定金手指区域的基准值线；利用区域生长算法确定金手指灰度图像中的亮点区域；基于亮点轮廓点到基准值线的距离和距离阈值，对待检测图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。采用本方法能够提高检测精度，准确的对金手指进行缺陷检测。
主权项：1.一种金手指缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测图像，所述待检测图像中包含多个金手指等间距分布构成的金手指区域和位于所述金手指区域两端的基准图形区域，提取所述待检测图像中金手指区域的金手指灰度图像；根据所述基准图形区域、每个所述金手指的尺寸，确定每个金手指的第一边界端点和第二边界端点；在每个金手指的第一边界端点和第二边界端点之间划分预设数量的轮廓，基于预设数量的轮廓的灰度值，确定每个金手指的中位点，基于每个金手指的中位点，确定所述金手指区域的基准值线；利用区域生长算法确定所述金手指灰度图像中的亮点区域，计算所述亮点区域的亮点轮廓点到所述基准值线的距离；基于所述亮点轮廓点到所述基准值线的距离和距离阈值，对所述待检测图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，其中，所述距离阈值是基于所述基准值线与所述金手指区域的排除区域确定的。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州华兴源创科技股份有限公司 金手指缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质
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