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申请/专利权人：苏州旗芯微半导体有限公司
摘要：本申请涉及芯片质量验证技术领域，特别是涉及一种差错检测机制功能验证方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测芯片的功能控制模块接口协议以及节点信息，基于节点信息确定错误注入节点列表；根据功能控制模块接口协议构建虚拟功能控制模块接口设备模型，虚拟功能控制模块接口设备模型用于监测待测芯片中功能控制模块接口的信号情况；基于错误注入节点列表以及虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动；编译测试用例、驱动模块以及待测芯片，遍历全部的测试用例，执行错误注入测试，确定待测芯片的差错检测机制的功能状态。采用本方法能够提高功能验证平台的通用性以及验证环境的开发管理效率。
主权项：1.一种差错检测机制功能验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片的功能控制模块接口协议以及节点信息，基于所述节点信息确定错误注入节点列表；根据所述功能控制模块接口协议构建虚拟功能控制模块接口设备模型，所述虚拟功能控制模块接口设备模型用于监测所述待测芯片中功能控制模块接口的信号情况；基于所述错误注入节点列表以及所述虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动，所述测试用例用于执行错误注入测试，所述测试驱动用于基于所述测试用例实施功能控制模块接口访问记录以及功能控制模块接口错误注入；编译所述测试用例、所述驱动模块以及所述待测芯片，遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州旗芯微半导体有限公司 一种差错检测机制功能验证方法以及装置
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