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四极质量分析装置 

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申请/专利权人:株式会社岛津制作所

摘要:本发明的四极质量分析装置100具备:四极滤质器21,具有预杆;离子化室2;离子光学系统5、15,将在离子化室2生成的离子引导至四极滤质器21的预杆9、19,离子光学系统5、15的射出侧电极5c的电势低于离子化室2及四极滤质器21的预杆9、19的电势,在射出侧电极5c与预杆9、19之间不存在使离子减速的、具有比射出侧电极5c更高的电势的结构物。

主权项:1.一种四极质量分析装置,其特征在于,具备:四极滤质器,具有预杆;离子化室;离子光学系统,将在所述离子化室生成的离子引导至所述四极滤质器的所述预杆,所述离子光学系统的射出侧电极的电势低于所述离子化室及所述四极滤质器的所述预杆的电势,在所述射出侧电极与所述预杆之间不存在使所述离子减速的、具有比所述射出侧电极更高的电势的结构物,所述离子光学系统及所述四极滤质器的中心轴与所述射出侧电极的间隔为所述中心轴与所述预杆的间隔的一半以下,所述射出侧电极与所述预杆的间隔为所述预杆的所述中心轴方向的长度的一半以下。

全文数据:

权利要求:

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