龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要：本发明涉及一种环形同轴明暗场同步光学相干层析成像装置，包括：双干涉仪和与之共用的一个宽带光谱仪；双干涉仪配置有明场和暗场两个参考臂，且样品臂的明场和暗场是共光轴的。本发明的环形同轴明暗场同步光学相干层析成像装置，将改变现有标准OCT只有一个明场图像的配置，实现明场和暗场图像的同步探测。在保留明场图像的基础上，获得分辨率更高、对比度更高、分辨率更高的暗场图像。在极低成本的基础上，可改装现有OCT系统，使其具备探测额外小角度暗场散射光的能力，实现深层组织的高分辨率检测和治疗的能力。
主权项：1.一种环形同轴明暗场同步光学相干层析成像装置，其特征在于，包括：双干涉仪和与之共用的一个宽带光谱仪；所述双干涉仪配置有明场和暗场两个参考臂，且样品臂的明场和暗场是共光轴的；从宽带光源发出的光经分光后进入样品臂、明场参考臂和暗场参考臂；进入明场参考臂和暗场参考臂的参考光经反射镜反射后将原路返回，并引入一个参考的延迟量；进入样品臂的探测光被聚焦至样品内部，后经样品散射和反射也经原路返回，并与参考光进行干涉；明场参考臂和暗场参考臂的反射信号存在的时延与样品内部的结构信息相关，且会对干涉光谱产生调制；明暗场的干涉光谱经光栅分光，最后由宽带光谱仪接收；采集的干涉信号经傅里叶变换便能重构出探测光聚焦方向上深度解析的反射率包络。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种环形同轴明暗场同步光学相干层析成像装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号