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申请/专利权人：株式会社理学
摘要：能够比较容易且再现性良好且可靠地将保持有吸藏了单晶的细孔性络合物结晶的试样保持架装备于测角仪头。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：测角仪，具备的测角仪头514，该测角仪头514装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架310；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头514调整的所述细孔性络合物结晶；在所述测角仪头514的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架310的位置的定位部。
主权项：1.一种单晶X射线结构解析装置，是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，其特征在于，具备：X射线源，产生X射线；测角仪，具备测角仪头，该测角仪头装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头调整的所述细孔性络合物结晶；X射线检测测定部，检测通过所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及结构解析部，基于在所述X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析，在所述测角仪头的装备所述试样保持架的面，在从所述测角仪头的中心偏离了的位置形成有定位部，所述定位部是将所述试样保持架的朝向决定为给定的朝向的嵌合结构，所述定位部具有与形成在所述试样保持架的贯通孔嵌合的突起部。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社理学 单晶X射线结构解析装置以及试样保持架
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