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申请/专利权人：苏州博创集成电路设计有限公司
摘要：本发明公开了一种通道间匹配性测试电路，该通道间匹配性测试电路包括测试模式电路、以及与测试模式电路信号连接的传输延时差处理电路；测试模式电路用于产生并输出测试模式使能信号，以开启传输延时差处理电路；传输延时差处理电路用于根据第一输出信号和第二输出信号生成二进制数，并输出所述二进制数。本发明还公开了一种多通道模组、合封芯片、测试系统。利用本发明方案，可以提高通道间匹配性测试精度。
主权项：1.一种通道间匹配性测试电路，用于测试不同通道芯片间的传输延时差，每个通道芯片包括各自独立的功能电路；其特征在于，所述测试电路包括：测试模式电路、以及与所述测试模式电路信号连接的传输延时差处理电路；所述测试模式电路，用于产生并输出测试模式使能信号，以开启所述传输延时差处理电路；所述传输延时差处理电路，用于根据第一输出信号和第二输出信号生成二进制数，并输出所述二进制数；所述第一输出信号为第一通道芯片中的功能电路的输出信号，所述第二输出信号为第二通道芯片中的功能电路的输出信号；其中，所述传输延时差处理电路包括：测试延时差电路、以及模数转换电路；所述测试延时差电路，用于对所述第一输出信号和所述第二输出信号进行逻辑处理，产生第二脉冲信号；所述模数转换电路，用于将所述第二脉冲信号的脉宽转换为二进制数输出。
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权利要求：
百度查询： 苏州博创集成电路设计有限公司 通道间匹配性测试电路
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