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申请/专利权人：中国人民解放军国防科技大学
摘要：本发明提供了一种利用光子力显微镜测量范德华力的方法，它属于测量技术领域，包括以下步骤：步骤一、获取探针微粒不受范德华力作用时受限布朗运动的中心位置；步骤二、获取探针微粒受范德华力作用时受限布朗运动的中心位置；步骤三、计算探针微粒与待测微粒或待测表面之间的范德华力。本发明通过光镊捕获探针微粒，利用测量探针微粒的受限布朗运动的中心位置实现对范德华力的感知和测量，测量精度高，不易损伤待测微粒或表面，且能同时实现微粒与微粒之间，微粒与大表面之间范德华力的测量。本发明还提供了一种利用光子力显微镜测量范德华力的装置。
主权项：1.一种利用光子力显微镜测量范德华力的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、获取探针微粒不受范德华力作用时受限布朗运动的中心位置：利用光子力显微镜捕获探针微粒，探针微粒做受限布朗运动，测量探针微粒的位置变化序列，计算其受限布朗运动的中心位置x0；步骤二、获取探针微粒受范德华力作用时受限布朗运动的中心位置：利用标定好的三维位移台，将待测微粒或待测表面移动至距离探针微粒dn1的位置，测量探针微粒的位置变化序列，计算此时探针微粒受限布朗运动的中心位置xn1；步骤三、计算探针微粒与待测微粒或待测表面之间的范德华力：根据获取的探针微粒的中心位置x0、xn1和公式 计算探针微粒与待测微粒或待测表面之间的范德华力；所述公式中，等式右边第一项为光阱力，第二项为扩散系数变化导致的虚拟力，第三项为范德华力，第四项表示布朗运动噪声项；x为探针微粒的位置，γx为与探针微粒位置相关的摩擦系数，k为光阱刚度，Dx为微粒的扩散系数，d表示探针微粒与待测微粒或待测表面之间的距离，ζt为布朗运动随机项。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国人民解放军国防科技大学 一种利用光子力显微镜测量范德华力的方法及装置
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