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申请/专利权人：瑞芯微电子股份有限公司
摘要：本发明公开的用于调试SERDES芯片的方法和装置。该方法包括获取目标芯片的接入数据和显示信息；根据所述接入数据确定所述目标芯片的芯片信息；若根据所述芯片信息判断所述目标芯片已完成配置，则在预先创建的配置数据库中检索与所述芯片信息相匹配的第一目标序列，并通过所述第一目标序列完成初始化；以及根据所述芯片信息和所述显示信息输出测试画面。本发明能够对已经适配过的芯片进行快速识别并匹配，自动完成模拟调试，实现即插即用，且整个适配过程脱离主控芯片以及操作系统，故无需进行打板调试，提高了开发效率。
主权项：1.一种用于调试SERDES芯片的方法，其特征在于，包括：获取目标芯片的接入数据和显示信息；根据所述接入数据确定所述目标芯片的芯片信息；若根据所述芯片信息判断所述目标芯片已完成配置，则在预先创建的配置数据库中检索与所述芯片信息相匹配的第一目标序列，并通过所述第一目标序列完成初始化；以及根据所述芯片信息和所述显示信息输出测试画面。
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百度查询： 瑞芯微电子股份有限公司 用于调试SERDES芯片的方法和装置
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