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申请/专利权人：深圳悦和精密技术有限公司

摘要：本申请公开了一种电子装置壳体质量测试方法、装置以及系统，所述方法包括：通过网络分析仪向待测试产品发出射频测试信号，并获取所述待测试产品响应于所述射频测试信号而产生的测试回波信号；根据所述测试回波信号的回波损耗与信号频率的对应关系，确定所述待测试产品的测试波形曲线；在所述测试波形曲线上确定多个测试频率点；根据与所述多个测试频率点对应的所述测试回波信号的回波损耗和信号频率，计算得到用于表征所述待测试产品的质量的测试指标。本申请能够更准确地表示出产品与标准样品之间的差异，极大地提高了检测的精准度。

主权项：1.一种电子装置壳体质量测试方法，其特征在于，所述方法包括：通过网络分析仪向待测试产品发出射频测试信号，并获取所述待测试产品响应于所述射频测试信号而产生的测试回波信号；根据所述测试回波信号的回波损耗与信号频率的对应关系，确定所述待测试产品的测试波形曲线；在所述测试波形曲线上确定多个测试频率点；根据与所述多个测试频率点对应的所述测试回波信号的回波损耗和信号频率，计算得到用于表征所述待测试产品的质量的测试指标；提供校准器件，所述校准器件为与所述待测试产品种类相同且符合预设测试标准的产品；通过所述网络分析仪向所述校准器件发出射频测试信号，并获取所述校准器件响应于所述射频测试信号而产生的校准回波信号；根据所述校准回波信号的回波损耗与信号频率的对应关系，确定所述校准器件的校准波形曲线；在所述校准波形曲线上确定多个校准频率点，所述多个校准频率点的回波损耗分别与所述多个测试频率点的回波损耗相对应；其中，所述根据与所述多个测试频率点对应的所述测试回波信号的回波损耗和信号频率，计算得到用于表征所述待测试产品的质量的测试指标包括：计算得到每个所述测试频率点的信号频率和与所述测试频率点的回波损耗相对应的所述校准频率点的信号频率之间的频率差，根据所有的所述频率差计算得到用于表征所述待测试产品的质量的测试指标；其中，所述根据所有的所述频率差计算得到用于表征所述待测试产品的质量的测试指标包括：获取用于计算得到所述测试指标的输入回波损耗和所述校准器件的谐振点的谐振频率；基于所述输入回波损耗，对所有的所述频率差进行加权求和，得到第一频偏数值；基于所述第一频偏数值与所述校准器件的谐振点的谐振频率，得到用作所述测试指标的第二频偏数值；其中，所述第一频偏数值通过以下公式计算： 其中，为所述第一频偏数值，为第n个所述频率差的权重，为第n个测试频率点对应的所述测试回波信号的信号频率，为第n个校准频率点对应的所述校准回波信号的信号频率；其中，所述第二频偏数值通过以下公式计算： 其中，为所述第二频偏数值，为所述校准器件的谐振点的谐振频率。

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