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一种塔载光学经纬仪的实时姿态标校精度测定系统及方法 

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申请/专利权人:西北核技术研究所;中国科学院西安光学精密机械研究所

摘要:本发明提供了一种塔载光学经纬仪的实时姿态标校精度测定系统及方法,能解决室内测定方法不适用于塔载光学经纬仪实时姿态标校精度的测定且准确性较低的问题。该系统包括用于安装待测光学经纬仪的塔型平台、设置在地面上测定物、装在测定物侧壁的第一实时定位设备及用于装在待测光学经纬仪侧壁且靠近顶部的第二实时定位设备,测定物位于待测光学经纬仪视场内,使得待测光学经纬仪能够获取测定物相对于待测光学经纬仪的方位角测量值和俯仰角测量值,第一实时定位设备用于测量测定物在大地坐标系下的三维坐标,第二实时定位设备用于实时测量待测光学经纬仪在大地坐标系下的三维坐标。

主权项:1.一种塔载光学经纬仪的实时姿态标校精度测定系统,其特征在于:包括用于安装待测光学经纬仪2的塔型平台1、设置在地面上的测定物5、安装在测定物5侧壁的第一实时定位设备3以及用于安装在待测光学经纬仪2侧壁且靠近顶部的第二实时定位设备4;所述测定物5位于待测光学经纬仪2视场内,使得待测光学经纬仪2能够获取测定物5相对于待测光学经纬仪2的方位角测量值和俯仰角测量值;所述第一实时定位设备3用于测量测定物5在大地坐标系下的三维坐标;所述第二实时定位设备4用于实时测量待测光学经纬仪2在所述大地坐标系下的三维坐标。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西北核技术研究所 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种塔载光学经纬仪的实时姿态标校精度测定系统及方法

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