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申请/专利权人：旭化成微电子株式会社
摘要：本发明提供一种小型且高精度的光学式物理量测定装置。光学式物理量测定装置1具备发光元件L、至少包括第一受光元件和第二受光元件的多个受光元件S、以及反射部，发光元件根据辐射方向而具有不同的辐射光谱，使光至少以第一辐射角度、第二辐射角度以及第三辐射角度向存在被测定对象的空间辐射，反射部使从发光元件向不同的辐射方向辐射的光到达不同的多个位置，在以第一辐射角度辐射的光行进的光路中配置第一受光元件，在以第二辐射角度辐射的光行进的光路中配置第二受光元件，在以第三辐射角度辐射的光行进的光路中设置吸收体或空隙。
主权项：1.一种光学式物理量测定装置，其特征在于，具备发光元件、至少包括第一受光元件和第二受光元件的多个受光元件、以及反射部，所述发光元件根据辐射方向而具有不同的辐射光谱，使光至少以第一辐射角度、第二辐射角度以及第三辐射角度向存在被测定对象的空间辐射，所述反射部使从所述发光元件向不同的所述辐射方向辐射的光到达不同的多个位置，在以所述第一辐射角度辐射的光行进的光路中配置所述第一受光元件，在以所述第二辐射角度辐射的光行进的光路中配置所述第二受光元件，在以所述第三辐射角度辐射的光行进的光路中设置吸收体或空隙。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 旭化成微电子株式会社 光学式物理量测定装置
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