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一种键盘键帽缺陷检测系统及方法 

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申请/专利权人:深圳市洛斐客文化有限公司

摘要:本发明属于键帽缺陷检测技术领域,具体的说是一种键盘键帽缺陷检测系统及方法,包括光学成像模块,用于对键盘键帽进行拍摄,获取键盘图像;图像处理模块,用于对键盘图像预处理,得到键帽图像;一次处理模块,用于处理键帽图像,识别缺陷键帽;通过一次处理模块对键帽图像中的印刷信息与背景分割,通过判断印刷信息完整度,确定键帽图像是否存在缺陷,再通过二次处理模块计算分析颗粒轮廓是否属于缺陷,从而精确识别键帽图像上可能存在的缺陷,避免因二值化图像处理时,因阈值设置的不合理,导致可能存在的颗粒缺陷被隐藏,进而导致带有缺陷的键盘流入市场,对使用者的体验感造成影响。

主权项:1.一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于,包括:光学成像模块,用于对键盘键帽进行拍摄,获取键盘图像;图像处理模块,用于对键盘图像预处理,获取键帽图像与背景图像;一次处理模块,用于根据印刷信息完整度判断键帽图像是否存在缺陷;二次处理模块,用于根据颗粒轮廓像素值判断键帽图像是否存在缺陷;整理模块,根据键帽缺陷类别,将键帽剔除;反馈模块,根据键帽缺陷类别出现频率调整优化产线。

全文数据:

权利要求:

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