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用于测量时钟数据恢复性能的内置自测试电路以及包括该内置自测试电路的片上系统 

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申请/专利权人:三星电子株式会社

摘要:一种片上系统,包括:时钟生成电路,被配置为生成第一相位的参考时钟;发送电路,包括串行器,串行器被配置为根据第一相位的参考时钟对数据进行串行化;接收电路,包括时钟数据恢复CDR电路,CDR电路被配置为接收串行化数据并且生成第一恢复时钟和恢复数据;以及内置自测试BIST电路,包括CDR性能监控电路,CDR性能监控电路被配置为生成提供给延迟控制器的控制信号,延迟控制器被配置为将时钟信号延迟预设相位差,并且延迟控制器被配置为响应于控制信号而将时钟信号延迟预设相位差,并且将延迟的时钟信号提供给发送电路。

主权项:1.一种片上系统,包括:时钟生成电路,被配置为生成第一相位的参考时钟;发送电路,包括串行器,所述串行器被配置为根据所述第一相位的所述参考时钟对数据进行串行化;接收电路,包括时钟数据恢复CDR电路,所述CDR电路被配置为接收串行化数据并且生成第一恢复时钟和恢复数据;以及内置自测试BIST电路,包括:CDR性能监控电路,被配置为生成提供给延迟控制器的控制信号,所述延迟控制器被配置为将时钟信号延迟预设相位差,并且所述延迟控制器被配置为响应于所述控制信号而将所述时钟信号延迟所述预设相位差,并且将延迟的时钟信号提供给所述发送电路。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三星电子株式会社 用于测量时钟数据恢复性能的内置自测试电路以及包括该内置自测试电路的片上系统

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