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申请/专利权人：无锡赛米垦拓微电子股份有限公司
摘要：本发明涉及延时校准技术领域，具体地公开了一种延时芯片的延时时间的检测方法及系统，包括：步骤一：获取电子雷管的时间间隔误差比；步骤二：基于电子雷管的时间间隔误差比，对电子雷管的时间间隔误差情况进行评估，并生成误差评估信号；步骤三：基于时间间隔误差大信号，分析误差原因是否为环境温度导致，并对误差进行粗校准；步骤四：基于时间间隔误差小信号，对误差进行精校准；本发明能够精确校准电子雷管的时间间隔误差，提高了其时间精度和可靠性，特别地，考虑了环境温度对时间间隔误差的影响，并通过计算温度修正系数来优化校准效果，使得校准过程更加准确和灵活。
主权项：1.一种延时芯片的延时时间的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：获取电子雷管的时间间隔误差比；步骤二：基于电子雷管的时间间隔误差比，对电子雷管的时间间隔误差情况进行评估，并生成误差评估信号；其中，误差评估信号包括：时间间隔误差大信号和时间间隔误差小信号；将时间间隔误差比与时间间隔误差比阈值进行对比分析；若时间间隔误差比＞时间间隔误差比阈值，则生成时间间隔误差大信号，进入步骤三；若时间间隔误差比≤时间间隔误差比阈值，则生成时间间隔误差小信号，进入步骤四；步骤三：基于时间间隔误差大信号，分析误差原因是否为环境温度导致，并对误差进行粗校准；步骤四：基于时间间隔误差小信号，对误差进行精校准。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 无锡赛米垦拓微电子股份有限公司 一种延时芯片的延时时间的检测方法及系统
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