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申请/专利权人：华中科技大学

摘要：本发明公开一种航空叶片横截面型线轮廓参数评价方法和系统，属于航空叶片检测领域。包括：理论数据点集P和叶型轮廓点集Q进行ICP匹配，得到初始匹配结果；Q分为前缘、后缘、叶盆、叶背子点集，分别为各子点集设置公差带范围；对各子点集中每个测点，根据测点与对应公差带范围的位置关系赋予系数；以Q的x偏移量、y偏移量、扭转角作为待优化量，以各测点系数为权重，构建带有位置约束的目标函数；初始匹配结果为初值，对目标函数求解得到最优匹配结果；利用最优匹配结果进行刚体变换，将刚体变换后的航空叶片与设计模型比较，判断是否合格。本发明对不同区域测点赋予不同系数，构建带位置约束目标函数，引入扭角和偏移量，更符合实际检测要求。

主权项：1.一种航空叶片横截面型线轮廓参数评价方法，其特征在于，该方法包括：S1.将待评价航空叶片横截面设计模型离散为理论数据点集P，测量待评价航空叶片对应横截面的测点数据，构成叶型轮廓点集Q；S2.利用P和Q进行ICP匹配，得到初始匹配结果；S3.对叶型轮廓进行分割，将Q分为前缘子点集、后缘子点集、叶盆子点集和叶背子点集；S4.对于各子点集中的每个测点，在P中找寻对应的最近点，计算测点与对应最近点的点点距离，根据轮廓度评定标准分别为各子点集设置公差带范围，并根据点点距离与对应公差带范围的位置关系，赋予各测点距离系数；S5.以Q的x偏移量、y偏移量、扭转角作为决策变量，以各测点距离系数为权重，构建带有位置约束的目标函数；其中，所述带有位置约束的目标函数如下： 其中，x′，y′，θ分别表示Q的x偏移量、y偏移量、扭转角，wi表示Q中第i个测点qi的系数，M表示Q的测点数目，分别表示测点qi的x坐标、y坐标，分别表示P中与测点qi最近的测点pi的x坐标、y坐标，x2，x1分别表示偏移量的上下公差，y2，y1分别表示y偏移量的上下公差，θ2，θ1分别表示扭转角的上下公差，上述上下公差根据型面偏移公差评定准则设置；S61.将初始匹配结果x0作为初始参数，为目标函数构造二次模型： S62.设置迭代次数K和精度ε，并初始化迭代次数k＝0；S63.当达到迭代次数k＝K或者是投影梯度的范数||Pxk-gk,l,u-xk||∞小于精度ε时，结束迭代；其中，其中l＝x1,y1,γ1,u＝x2,y2,γ2；S64.对二次模型用CauthyPoint方法得到柯西点的近似解xc；S65.首先忽略约束，从xc开始进行目标函数二次模型的子空间最小化运算，然后再通过把点回溯到可行区域内来满足约束条件，并得到搜索方向dk；S66.通过新的搜索方向dk进行线搜索的循环，直到满足每次循环中对x进行更新xk+1＝xk+λkdk，其中，λ初始值为1，并且线性递减；S67.更新Hessian矩阵，跳到步骤S63；S7.利用最优匹配结果对航空叶片横截面进行刚体变换，将刚体变换后的航空叶片横截面与设计模型进行比较，判断航空叶片横截面型线轮廓是否合格。

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