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光刻胶滴胶量的监控方法 

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申请/专利权人:华虹半导体(无锡)有限公司

摘要:本申请实施例提供了一种光刻胶滴胶量的监控方法,包括:预设一胶量阈值和完整喷涂胶量;对晶圆进行一次光刻胶喷涂处理,其中,光刻胶存在一定流量的回流;获取本次喷涂过程中流经光刻胶管路的稳定流量;将稳定流量的数值与胶量阈值进行比较;若稳定流量的数值小于胶量阈值,则将干预输出胶量记为0;若稳定流量的数值大于胶量阈值,则将干预输出胶量记为完整喷涂胶量;将干预输出胶量反馈给机台。本申请引入胶量阈值,对流量计检测的稳定流量进行干预,获取更准确的干预输出胶量,避免了由于光刻胶回流造成的检测存在偏差的情况,实现胶量的真实输出监控,避免了光刻胶浪费。

主权项:1.一种光刻胶滴胶量的监控方法,其特征在于,包括:预设一胶量阈值,以及预设一完整喷涂胶量;根据所述完整喷涂胶量,对晶圆进行一次光刻胶喷涂处理,其中,光刻胶存在一定流量的回流;获取本次光刻胶喷涂处理过程中流经光刻胶管路的稳定流量;将所述稳定流量的数值与所述胶量阈值进行比较;若所述稳定流量的数值小于所述胶量阈值,则将干预输出胶量记为0;若所述稳定流量的数值大于所述胶量阈值,则将干预输出胶量记为所述完整喷涂胶量;以及将所述干预输出胶量反馈给机台。

全文数据:

权利要求:

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