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一种晶圆级封装的RFID高频电子标签及其制备工艺 

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申请/专利权人:华大恒芯科技有限公司

摘要:本发明公开了一种晶圆级封装的RFID高频电子标签及制备工艺,属于半导体封装技术领域。该制备工艺包括:1晶圆键合;2塑封和晶圆拆键合;3EMC减薄与EMC激光打标;4EMC键合、以固定减薄后EMC;5再分布层RDL制备:包括依次进行的阻挡层制作FP1、第一层天线制作M1、基板制作FP2、第二层天线制作M2和保护层制作FP3;6EMC拆键合、划片。本发明首次实现高频RFID电子标签的晶圆级封装,制造出尺寸小、可量产、低成本、高精度、高可靠、散热好的高频微型电子标签。

主权项:1.一种晶圆级封装的RFID高频电子标签的制备工艺,其特征在于:该制备工艺包括依次进行的如下步骤:1晶圆键合:将减薄后的RFID芯片薄RFID晶粒与一个载体晶圆通过黏合剂临时键合在一起;2塑封和晶圆拆键合:塑封是将步骤1键合载体晶圆的RFID晶粒用介电材料模制并形成扇出结构,塑封后,RFID晶粒背面完全被一层介电材料介电材料层包裹;塑封后将晶圆拆键合,使RFID晶粒与载体晶圆分离;3介电材料层减薄与介电材料层激光打标;4介电材料层临时键合:将减薄后的介电材料层背面与涂有黏合剂的载体晶圆进行临时键合,以固定减薄后介电材料层;5再分布层RDL制备:RDL制备包括依次进行的阻挡层制作FP1得到阻挡层P1、第一层天线制作M1得到第一层天线M1、基板制作FP2制作后的产物为P2、第二层天线制作M2得到第二层天线M2和保护层制作FP3制作后的产物为保护层P3;6EMC拆键合、划片。

全文数据:

权利要求:

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