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申请/专利权人：华东交通大学
摘要：本公开涉及一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法及其系统，包括：获取被测物体上的完全偏振条纹；其中，完全偏振条纹为投影仪投射完全偏振编码条纹至被测物体上，通过两台偏振相机拍摄得到；计算嵌入在完全偏振条纹中的相移信息和格雷码信息，并对所述格雷码信息进行二值化处理，得到相移条纹图和二值化的互补格雷码图；利用计算得到的相移条纹图和二值化的互补格雷码图进行相位展开，完成三维测量。本公开方法可以实现高效稳定的相位匹配。
主权项：1.一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S10、获取被测物体上的完全偏振条纹；其中，完全偏振条纹为投影仪投射完全偏振编码条纹至被测物体上，通过两台偏振相机拍摄得到；S20、计算嵌入在完全偏振条纹中的相移信息和格雷码信息，并对所述格雷码信息进行二值化处理，得到相移条纹图和二值化的互补格雷码图；S30、利用计算得到的相移条纹图和二值化的互补格雷码图进行相位展开，完成三维测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华东交通大学 一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法及其系统
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