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用于表征粒子的传感器组件 

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申请/专利权人:科安德有限公司

摘要:本发明涉及一种用于表征粒子P,尤其用于确定粒子位置PX、PY、粒子速度vX、vY、粒子加速度aX、aY和或粒子大小D的传感器布置1,其包括:发射器2,其具有:激光源5,其用于产生激光束3;模式转换装置7,其用于产生该激光束3的场分布,该场分布在各位置X、Y处具有该激光束3的局部强度IX,Y及局部偏振方向RX,Y的不同组合;聚焦光学器件8,其用于将该激光束3的该场分布聚焦至该粒子P在焦平面9中行进通过的至少一个测量区域10上,接收器4,其具有:分析器光学器件14,其用于确定该至少一个测量区域10中的该激光束3的该场分布的偏振相关的强度信号I1、I2、I3、I4,且具有分析处理装置20,该分析处理装置20用于表征粒子P,尤其用于在该偏振相关的强度信号I1、I2、I3、I4的帮助下确定该粒子位置PX、PY、该粒子速度vX、vY、该粒子加速度aX、aY和或该粒子大小D。本发明亦涉及一种尤其用于EUV辐射产生设备的具有此传感器布置1的光学布置。

主权项:1.一种用于表征粒子P的传感器组件1,所述传感器组件1用于确定粒子位置PX,PY、粒子速度vX,vY、粒子加速度aX,aY和或粒子大小D,所述传感器组件包括:发射器2,所述发射器具有:用于产生激光束3的激光源5,用于产生激光束3的场分布11、11a的模式转换装置7,所述场分布在每个位置X,Y处具有所述激光束3的局部强度IX,Y以及所述激光束3的局部偏振方向RX,Y的不同组合,聚焦光学器件8,所述聚焦光学器件用于将所述激光束3的场分布11聚焦在由所述粒子P行进通过的焦平面9中的至少一个测量区域10;10a-c上,接收器4,所述接收器具有:分析器光学器件14,所述分析器光学器件14用于求取至少一个测量区域10;10a-c中所述激光束3的所述场分布11、11a的偏振相关的强度信号I1、I2、I3、I4,具有用于基于所述偏振相关的强度信号I1、I2、I3、I4来表征粒子P的分析处理装置20,所述分析处理装置20构造用于确定所述粒子位置PX,PY、所述粒子速度vX,vY、所述粒子加速度aX,aY和或所述粒子大小D。

全文数据:

权利要求:

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