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申请/专利权人：珠海妙存科技有限公司

摘要：本申请公开一种EMMC芯片老化测试电路及其控制方法、测试系统，涉及芯片老化测试技术领域。EMMC芯片老化测试电路包括：母板包括第一输入端、第二输入端、第一输出端和第二输出端；直流电源通过第一开关模块与第一输入端连接；固件烧录板通过第二开关模块与第二输入端连接；子板包括EMMC芯片、SPI芯片、连接在第一输出端与EMMC芯片之间的缓启开关模块、连接在第一输出端与SPI芯片之间的第三开关模块、二极管；二极管的阴极与SPI芯片连接，二极管的阳极分别与第二输出端、第三开关模块连接；控制器分别与第一开关模块和第二开关模块通信连接。能降低老化测试过程的供电功耗和供电成本，提高成功启动EMMC芯片的概率。

主权项：1.一种EMMC芯片老化测试电路，其特征在于，包括：母板，包括第一输入端、第二输入端、第一输出端和第二输出端；直流电源，通过第一开关模块与所述第一输入端连接；固件烧录板，通过第二开关模块与所述第二输入端连接；子板，包括：EMMC芯片、SPI芯片、连接在所述第一输出端与所述EMMC芯片之间的缓启开关模块、连接在所述第一输出端与所述SPI芯片之间的第三开关模块、二极管；所述二极管的阴极与所述SPI芯片连接，所述二极管的阳极分别与所述第二输出端、所述第三开关模块连接；控制器，分别与所述第一开关模块和所述第二开关模块通信连接；所述控制器用于：响应于烧录指令，控制所述第一开关模块断开、所述第二开关模块闭合，使所述缓启开关模块、所述第三开关模块断开；以使所述固件烧录板输出的供电烧录信号输出至所述SPI芯片，对所述SPI芯片实现上电和烧录；响应于老化测试启动指令、所述SPI芯片发出的烧录完成信号，控制所述第一开关模块闭合、所述第二开关模块断开，使所述缓启开关模块、所述第三开关模块导通；以使所述直流电源输出电源供电电压，令所述SPI芯片立刻启动、所述EMMC芯片经过预设延迟延时后延迟启动，对所述EMMC芯片进行老化测试；所述预设延迟延时由所述缓启开关模块确定；其中，所述EMMC芯片老化测试电路还包括：电源转换模块，所述电源转换模块的输入端与所述第一输出端连接；所述电源转换模块的输出端分别与所述缓启开关模块、所述第三开关模块连接；所述缓启开关模块包括：第一开关管；所述第一开关管的源极与所述电源转换模块的输出端连接，所述第一开关管的漏极与所述EMMC芯片连接；启动调控单元，所述启动调控单元的一端连接在所述电源转换模块的输出端和所述第三开关模块之间，所述启动调控单元的另一端与所述第三开关模块连接；所述启动调控单元包括第一电容和第一电阻；其中，所述第一电容的一端与所述第一开关管的源极连接，所述第一电容的另一端与所述第一开关管的栅极连接，所述第一电阻的一端与所述第一开关管的栅极连接，所述第一电阻的另一端接地。

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