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申请/专利权人：禾周科技股份有限公司
摘要：本实用新型提供了一种用于集成电路IC测试的测试插座，该插座包括一绝缘支撑层和多个导电柱。绝缘支撑层具有多个通孔，用于容纳导电柱。导电柱部分嵌入在绝缘支撑层中，并通过通孔延伸以建立IC测试用的电连接。导电柱具有弹性，使其能够适应IC封装之翘曲及BGA焊球尺寸之公差所产生之变异。绝缘支撑层还具有多个位于通孔旁边的凹槽，导电柱的一部分嵌入在这些凹槽中，增强了导电柱与绝缘支撑层的稳固附着。此外，测试插座还包括位于导电柱旁边的防短路支架，用于防止导电柱彼此接触并导致短路。而且，本实用新型还提供了制造该测试插座的方法。
主权项：1.一种测试插座，用于IC测试，其特征在于，该测试插座包括：一绝缘支撑层，包括多个通孔；以及多个导电柱，嵌入在该绝缘支撑层中并通过该通孔延伸，该导电柱包括一第一部分和一第二部分，其中该第一部分位于该绝缘支撑层下方，该第二部分位于该绝缘支撑层上方；其中，该绝缘支撑层还包括多个凹槽，这些凹槽位于所述通孔的二测，且该导电柱的一部分嵌入在这些凹槽中。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 禾周科技股份有限公司 用于IC测试的测试插座
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