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申请/专利权人：点金新型材料研究院(厦门)有限公司
摘要：本实用新型提供了一种高效便捷的漆膜厚度测量工具，包括数显深度表、定位组件、底座和支撑杆；所述底座固定有增高测量台，所述增高测量台设置有所述定位组件，所述定位组件用于定位的放置板件，所述底座相对位置安装有支撑杆，所述支撑杆连接有固定件，所述数显深度表安装在所述固定件上，所述数显深度表位于所述定位组件正上方，所述数显深度表测量板件漆膜厚度通过增高测量台设置横定位条、纵定位条，解决了传统方案中漆膜测厚操作区域缺乏辅助标识物定位不准确的技术问题，实现了通过横纵定位条辅助漆膜测厚操作区域定位的技术效果。
主权项：1.一种高效便捷的漆膜厚度测量工具，其特征在于：包括数显深度表1、定位组件、底座5和支撑杆8；所述底座5固定有增高测量台2，所述增高测量台2设置有所述定位组件，所述定位组件用于定位的放置板件，所述底座5相对位置安装有支撑杆8，所述支撑杆8连接有固定件，所述数显深度表1安装在所述固定件上，所述数显深度表1位于所述定位组件正上方，所述数显深度表1测量板件漆膜厚度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 点金新型材料研究院(厦门)有限公司 一种高效便捷的漆膜厚度测量工具
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