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一种分立器件的HTRB测试装置及系统 

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申请/专利权人:智新半导体有限公司

摘要:本发明公开了一种分立器件的HTRB测试装置及系统,涉及HTRB测试技术领域,所述HTRB测试装置包括:座板、安装台、测试组件和控制器,所述设置在所述座板上,所述安装台上用于安装多个待测试的分立器件;所述测试组件设置在所述座板上,所述测试组件包括驱动机构和设置在所述驱动机构上的测试驱动模块;所述控制器与所述测试组件电连接,所述控制器用于控制所述驱动机构驱动所述测试驱动模块移动,使所述测试驱动模块与多个待测试的分立器件电连接,以进行HTRB测试。本发明的HTRB测试装置设置有安装台、测试组件和控制器,可以同时对多个待测试的分立器件进行HTRB测试,且测试过程几乎无需人工参与,自动化程度高,测试效率高。

主权项:1.一种分立器件的HTRB测试装置,其特征在于,包括:座板1;安装台2,其设置在所述座板1上,所述安装台2上用于安装多个待测试的分立器件4;测试组件3,其设置在所述座板1上,所述测试组件3包括驱动机构31和设置在所述驱动机构31上的测试驱动模块32;控制器,其与所述测试组件3电连接,所述控制器用于控制所述驱动机构31驱动所述测试驱动模块32移动,使所述测试驱动模块32与多个待测试的分立器件4电连接,以进行HTRB测试。

全文数据:

权利要求:

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