买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：泰科诺团队控股有限公司

摘要：本发明的一个方面涉及光源和辐射源的光辐射特性的光度表征方法。本发明涉及一种通过相对于世界坐标系W静止布置的光强测量照相机对夹持在定位设备1内并且相对于物体坐标系T静止的光源进行光度绘制的方法，其中，光源在世界坐标系内沿着定位设备的运动链在第一实际测量位置和至少一个另外的实际测量位置之间移动，其中，在光源接通的情况下，在各实际测量位置通过光强测量照相机记录描述测量表面内的光度特性的空间分布的光强测量图像，并且其中，直接参考世界坐标系，而不参考定位设备的运动链，物体坐标系相对于世界坐标系的位置和或取向记录在各实际测量位置。并且，本发明涉及这种用于前照灯3的光度绘制的方法的用途。

主权项：1.一种通过被布置为相对于世界坐标系W静止的光强测量照相机4对夹持在定位设备1内且具有物体坐标系T的光源Q，3进行光度绘制的方法，其中，光源Q，3在世界坐标系W内沿着定位设备1的运动链在第一实际测量位置P1′和至少一个另外的实际测量位置P2′～P5′之间移动，其中，在光源Q，3接通的情况下，在各实际测量位置P1′～P5′通过光强测量照相机4记录描述测量表面M内的光度特性的空间分布的光强测量图像81～85，并且其中，在各实际测量位置P1’～P5’直接参考世界坐标系W而不参考定位设备1的运动链记录物体坐标系T相对于世界坐标系W的位置和或取向，并且其中，以保证的记录公差，在实际测量位置P1’～P5’通过直接参考世界坐标系W而不参考定位设备1的运动链记录相对于世界坐标系W的位置和或取向，所述保证的记录公差关于至少一个参数小于定位设备1的保证的定位公差，其中所述保证的记录公差被定义为相对于世界坐标系W的实际测量位置P1’～P5’和或取向与记录的位置和或取向的最大偏差，并且所述保证的定位公差被定义为实际测量位置P1’～P5’与预定设定测量位置P1～P5的最大偏差，以及其中以小于等于所需定位公差的定位公差选择定位设备1，所述所需定位公差被确定为足以使得能够布置预定设定测量位置P1～P5的序列并且能够接近所述序列，使得当光源Q，3到达对应于预定设定测量位置P1～P5的实际测量位置P1′～P5′时完全记录光源Q，3的光度特性，其中，各实际测量位置P1′～P5′在相应的预定设定测量位置P1～P5的所需定位公差内。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 泰科诺团队控股有限公司 光源和辐射源的光辐射特性的光度表征方法