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申请/专利权人：鼎道智芯(上海)半导体有限公司
摘要：本申请提供了一种基于芯片功耗模拟温升的方法和装置，涉及信息处理领域，该方法包括：获得待处理的若干连续测试周期的若干功耗测试值；按照测试周期的时间顺序，将所述若干功耗测试值划分为至少两组功耗测试值集合，任意功耗测试值集合内各个功耗测试值的时间连续；依据预设时均化规则，对于所述至少两组功耗测试值集合分别进行时均化处理，得到至少两个时间区间对应的时均功耗测试值；根据所述至少两个时间区间对应的时均功耗测试值进行温升仿真，得到温升仿真结果。
主权项：1.一种基于芯片功耗模拟温升的方法，包括：获得待处理的若干连续测试周期的若干功耗测试值；按照测试周期的时间顺序，将所述若干功耗测试值划分为至少两组功耗测试值集合，任意功耗测试值集合内各个功耗测试值的时间连续；其中，每个功耗测试值集合中的功耗测试值波动范围在预设范围内，以便在进行时均化处理的过程中，能够针对整体的功耗测试值的骤升或骤降的变化点进行捕捉；依据预设时均化规则，对于所述至少两组功耗测试值集合分别进行时均化处理，得到至少两个时间区间对应的时均功耗测试值；根据所述至少两个时间区间对应的时均功耗测试值进行温升仿真，得到温升仿真结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 鼎道智芯(上海)半导体有限公司 基于芯片功耗模拟温升的方法和装置
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