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申请/专利权人：苏州英世米半导体技术有限公司
摘要：本实用新型提出了一种用于芯片老化测试装置，其包括：机台；老化板，其置于所述机台的上端面，所述老化板上排列设置有若干芯片治具，用于放置芯片；下压机构，所述下压机构通过平移机构可移动的架设于所述老化板上方，所述下压机构包括支撑框架，所述支撑框架上配置有可升降的下压件及驱动所述下压件升降的驱动件。通过上述方式，利用下压机构对芯片治具进行下压动作，代替人工按压，有效提高工作效率。
主权项：1.一种用于芯片老化测试装置，其特征在于，主要包括：机台；老化板，其置于所述机台的上端面，所述老化板上排列设置有若干芯片治具，用于放置芯片；下压机构，所述下压机构通过平移机构可移动的架设于所述老化板上方，所述下压机构包括支撑框架，所述支撑框架上配置有可升降的下压件及驱动所述下压件升降的驱动件。
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百度查询： 苏州英世米半导体技术有限公司 一种用于芯片老化测试装置
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