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申请/专利权人:西安交通大学
摘要:本发明公开了一种降低死区损耗的GaNHEMT半桥双向串扰自适应抑制电路,属于电力电子技术领域,包括半桥BUCK功率级模块,高侧GaNHEMT的源极与低侧GaNHEMT的漏极之间为半桥BUCK功率级模块的桥臂中点;半桥BUCK功率级模块的桥臂中点连接高压dvdt检测电路的一端,高压dvdt检测电路的另一端连接自适应延时电路的一端,自适应延时电路的另一端连接正负压产生电路的一端,正负压产生电路的另一端连接NMOS的源极,NMOS的栅极连接反相输出缓冲器的一端,NMOS的漏极与低侧GaNHEMT的栅极连接。
主权项:1.一种降低死区损耗的GaNHEMT半桥双向串扰自适应抑制电路,其特征在于,包括半桥BUCK功率级模块,半桥BUCK功率级模块的桥臂包括高侧GaNHEMT和低侧GaNHEMT;高侧GaNHEMT的栅极连接高侧驱动电阻的一端,高侧驱动电阻的另一端连接高侧驱动输出,高侧GaNHEMT的漏极连接输入直流电源VIN,高侧GaNHEMT的源极连接低侧GaNHEMT的漏极;低侧GaNHEMT的栅极连接低侧驱动电阻的一端,低侧驱动电阻的另一端连接低侧驱动输出,低侧GaNHEMT源极连接地;低侧GaNHEMT设置栅漏米勒电容;高侧GaNHEMT的源极与低侧GaNHEMT的漏极之间为半桥BUCK功率级模块的桥臂中点;半桥BUCK功率级模块的桥臂中点连接高压dvdt检测电路的一端,高压dvdt检测电路的另一端连接自适应延时电路的一端,自适应延时电路的另一端连接正负压产生电路的一端,正负压产生电路的另一端连接NMOS的源极,NMOS的栅极连接反相输出缓冲器的一端,NMOS的漏极与低侧GaNHEMT的栅极连接。
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百度查询: 西安交通大学 一种降低死区损耗的GaN HEMT半桥双向串扰自适应抑制电路
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