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申请/专利权人：广州壁仞集成电路有限公司
摘要：本发明提供一种芯片内测试电路包括串并转换器、并串转换器以及控制器。串并转换器接收为串行格式的测试输入信号，转换测试输入信号为并行格式，并产生多个测试输入数据。并串转换器接收多个测试结果数据，转换并行的多个测试结果数据为串行的测试结果信号。控制器耦接串并转换器以及并串转换器，用以传送多个测试输入数据至至少一被测电路，从至少一被测电路接收多个测试回馈数据以获得多个测试结果数据。芯片内测试电路用以节省测试时间，提高测试效率。
主权项：1.一种芯片内测试电路，其特征在于，包括：串并转换器，接收为串行格式的测试输入信号，转换所述测试输入信号为并行格式，并产生多个测试输入数据；并串转换器，接收多个测试结果数据，转换并行的所述多个测试结果数据为串行格式的测试结果信号；以及控制器，耦接所述串并转换器以及所述并串转换器，用以传送所述多个测试输入数据至至少一被测电路区块，从所述至少一被测电路区块接收多个测试反馈数据以获得所述多个测试结果数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 广州壁仞集成电路有限公司 芯片内测试电路
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