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申请/专利权人：中国科学技术大学
摘要：本发明公开了一种低本底β辐射探测装置，涉及放射性测量技术领域，包括：时间投影室、反符合探测器和屏蔽层；时间投影室的底部开设有入射窗口，反符合探测器设置于时间投影室的顶部，入射窗口的下方设置有样品放置区域，时间投影室的底部设置有底屏蔽层，反符合探测器的顶部设置有顶屏蔽层，样品放置区域位于底屏蔽层和入射窗口之间。本发明提出以时间投影室为主要探测技术的探测装置，此探测装置同时对待测样品中β粒子的能量、径迹进行测量，在不借助于其它探测手段或额外屏蔽结构的条件下，在实现极低的β本底计数率的同时保持较高的β探测效率，有望应用于环境辐射监测、食品安全检验、材料检测等领域。
主权项：1.一种低本底β辐射探测装置，其特征在于：包括：时间投影室、反符合探测器和屏蔽层；所述时间投影室的底部开设有入射窗口，所述反符合探测器设置于所述时间投影室的顶部，所述入射窗口的下方设置有样品放置区域，所述时间投影室的底部设置有底屏蔽层，所述反符合探测器的顶部设置有顶屏蔽层，所述样品放置区域位于所述底屏蔽层和所述入射窗口之间。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学技术大学 一种低本底β辐射探测装置
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