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一种量子比特表征筛选方法、系统、存储介质和计算设备 

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申请/专利权人:量子科技长三角产业创新中心

摘要:本发明公开了一种量子比特表征筛选方法、系统、存储介质和计算设备,包括同时测量多个量子比特的读取信号,得到谐振腔的频率,通过测量谐振腔的频率是否偏移判断量子比特是否失效并进行标记,测量谐振腔的输出信号随磁通变化的数据,得到振荡周期和甜点的位置,输出结果数据;对激发谱的数据进行拟合,通过数学模型计算量子比特的退相干时间;并与阈值对比,若低于阈值,则将量子比特标记为失效并屏蔽,若高于阈值,则将量子比特标记为有效并输出标定参数;该方法提高单个量子比特的表征标定速度,并且可以同时对多个量子比特操作,大幅减少总体表征筛选的时间。

主权项:1.一种量子比特表征筛选方法,其特征在于,包括步骤:S1:对多个量子比特同时进行表征筛选,得到量子比特的读取信号和谐振腔的频率,对任一量子比特,改变所述读取信号的输入功率,测量量子比特与谐振腔是否耦合,并将未耦合的量子比特标记为失效并屏蔽;S2:测量谐振腔的输出信号随磁通变化的数据,得到振荡周期和甜点的位置,将量子比特调到甜点处,测量量子比特的激发谱与驱动信号功率的变化关系,输出一结果数据;S3:根据所述结果数据,对不同驱动信号功率下所述激发谱的数据进行拟合,得到一数学模型,计算量子比特的退相干时间;S4:设定筛选的阈值,将所述退相干时间与所述阈值对比,筛选有效的量子比特,标记有效的量子比特的参数后,输出一标定参数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 量子科技长三角产业创新中心 一种量子比特表征筛选方法、系统、存储介质和计算设备

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