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申请/专利权人：厦门优迅芯片股份有限公司

摘要：本发明公开了一种光收发芯片告解警和迟滞一致性筛选方法，其包括：步骤一，根据待测的光收发芯片的告警方式确定输入该光收发芯片的测试信号的类型和相应的幅值；步骤二，根据测试信号的幅值计算相应的告警阈值的理论值；步骤三，根据待测的光收发芯片的迟滞档位设置计算相应的迟滞值的理论值；步骤四，将测试信号输入待测的光收发芯片并进行测试；步骤五，判断待测的光收发芯片是否符合设定的离散要求，若符合则为良品，反之则为不良品。本发明能直接筛除告解警及迟滞的离散不符合设定的离散要求的光收发芯片，有助于提高后续的光模块的生产效率和良率。

主权项：1.一种光收发芯片告解警和迟滞一致性筛选方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一：根据待测的光收发芯片的告警方式确定输入该光收发芯片的测试信号的类型和相应的幅值；当待测的光收发芯片的告警方式为OMA告警方式时，测试信号的类型为交流电压信号，测试信号的电压幅值为：Vtest=Vmin+Vmax-Vmin2；Vtest为测试信号的电压幅值，Vmax为光收发芯片的告警阈值电压的可调节范围的最大值，Vmin为光收发芯片的告警阈值电压的可调节范围的最小值；当待测的光收发芯片的告警方式为ROP告警方式时，测试信号的类型为直流电流信号，测试信号的电流幅值为：Itest=Imin+Imax-Imin2；Itest为测试信号的电流幅值，Imax为光收发芯片的告警阈值电流的可调节范围的最大值，Imin为光收发芯片的告警阈值电流的可调节范围的最小值；步骤二：根据测试信号的幅值计算相应的告警阈值的理论值；告警阈值的理论值为：LOSth=[Vtest-VminVmax-Vmin×LOSmax-LOSmin]+LOSmin；或者，LOSth=[Itest-IminImax-Imin×LOSmax-LOSmin]+LOSmin；LOSth为告警阈值的理论值且LOSth的计算结果进行四舍五入取整，LOSmax为告警阈值设置值的有效设定范围的最大值，LOSmin为告警阈值设置值的有效设定范围的最小值；步骤三：根据待测的光收发芯片的迟滞档位设置计算相应的迟滞值的理论值；步骤四：将测试信号输入待测的光收发芯片的对应引脚中，并对待测的光收发芯片进行测试；测试包括如下步骤S1至S5；步骤S1：预设待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值为0，且确认待测的光收发芯片的信号丢失报警状态位的状态是否为解警状态；若为解警状态，则进入步骤S2；若不为解警状态，则结束全部步骤，判定此光收发芯片为不良品；步骤S2：将待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值逐次以1LSB步进进行递增，每次递增后确认待测的光收发芯片的信号丢失报警状态位的状态；当待测的光收发芯片的信号丢失报警状态位的状态从解警状态变为告警状态，则停止递增待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值，并将此时的待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值记录为告警阈值的实际值，然后进入步骤S3；步骤S3：预设待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值大于等于告警阈值的实际值，且确认待测的光收发芯片的信号丢失报警状态位的状态是否为告警状态；若为告警状态，则进入步骤S4；若不为告警状态，则结束全部步骤，判定此光收发芯片为不良品；步骤S4：将待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值逐次以1LSB步进进行递减，每次递减后确认待测的光收发芯片的信号丢失报警状态位的状态；当待测的光收发芯片的信号丢失报警状态位的状态从告警状态变为解警状态，则停止递减待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值，并将此时的待测的光收发芯片的寄存器中的告警阈值设置值记录为解警阈值的实际值，然后进入步骤S5；步骤S5：计算告警阈值的实际值和解警阈值的实际值的差值的绝对值，并将告警阈值的实际值和解警阈值的实际值的差值的绝对值记录为迟滞值的实际值；步骤五：将步骤二得到的告警阈值的理论值和步骤三得到的迟滞值的理论值与步骤四得到告警阈值的实际值和迟滞值的实际值进行对比，判断是否符合设定的离散要求，若符合则待测的光收发芯片为良品；反之则待测的光收发芯片为不良品。

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