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申请/专利权人：张俊萧
摘要：本发明公开了一种BIST结合ECC的测试装置，包括：BIST控制器，用于接收存储器发送的工作信号；向量产生器，用于根据工作信号产生相应的测试向量；待测电路模块，用于根据测试向量产生相应的响应数据；ECC模块，用于在数据从所述向量产生器传向所述待测电路模块前，对测试向量进行校验；压缩电路模块，用于对响应数据压缩成相应的特征数据；比较分析电路模块，将特征数据与实际数据进行对比分析，得到测试结果。还公开了一种BIST结合ECC的测试方法。本发明利用ECC纠错的测试方法，确保压缩前数据错误最少，提高产品的可靠性。
主权项：1.一种BIST结合ECC的测试装置，其特征在于，包括：BIST控制器，用于接收存储器发送的工作信号；向量产生器，用于根据工作信号产生相应的测试向量；待测电路模块，用于根据测试向量产生相应的响应数据；ECC模块，用于在数据从所述向量产生器传向所述待测电路模块前，对测试向量进行校验；压缩电路模块，用于对响应数据压缩成相应的特征数据；比较分析电路模块，将特征数据与实际数据进行对比分析，得到测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 张俊萧 一种BIST结合ECC的测试装置及方法
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