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申请/专利权人：苏州领慧立芯科技有限公司
摘要：本发明涉及ECC算法技术领域，具体公开一种存储阵列的ECC校验方法及装置，该方法包括：基于所述存储阵存储的数据分别计算出行映射数据和列映射数据；基于所述行映射数据和列映射数据分别计算得到行ECC值和列ECC值；分别对所述行ECC值、列ECC值进行ECC校验，判断是否存在错误，如果存在错误进行定位或指示。本发明将存储阵存储的数据分别计算出行映射数据和列映射数据，对行映射数据和列映射数据分别计算得到行ECC值和列ECC值，解决了现有技术需要一次性取出所有数据的问题，特别适用于二维数据，该方法极大地节省ECC计算单元，同时，保证了ECC计算单元数量固定，不随计算数据的增加而增加。
主权项：1.一种存储阵列的ECC校验方法，其特征在于，包括：基于所述存储阵存储的数据分别计算出行映射数据和列映射数据；基于所述行映射数据和列映射数据分别计算得到行ECC值和列ECC值；分别对所述行ECC值、列ECC值进行ECC校验，判断是否存在错误，如果存在错误进行定位或指示。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州领慧立芯科技有限公司 一种存储阵列的ECC校验方法及装置
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